CS310M電化學(xué)工作站
產(chǎn)品型號:
所屬分類:電化學(xué)工作站
更新時間:2024-09-09
簡要描述:全浮地式設(shè)計(jì),具有出色的穩(wěn)定性和精確度,性價比高,具備所有基礎(chǔ)電化學(xué)以及阻抗測試功能。● 新增IR補(bǔ)償功能、恒流阻抗測試技術(shù)● 包含基礎(chǔ)功能和阻抗模塊,滿足大部分研究領(lǐng)域● 全浮地模式,性價比高● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可選30V)● 電流控制范圍:±2A(可擴(kuò)展至20A/40A/100A)● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)
詳細(xì)說明:
產(chǎn)品介紹
CS電化學(xué)工作站采用全浮地式設(shè)計(jì),具有出色的穩(wěn)定性和精確度,先進(jìn)的硬件和功能完善的軟件,為涉及能源、材料、生命科學(xué)、環(huán)保等領(lǐng)域的科技工作者提供了優(yōu)秀的科研平臺。
應(yīng)用
(1)能源材料(鋰離子電池、太陽能電池、燃料動力電池和超級電容器等)、先進(jìn)功能材料以及傳感器的性能研究;
(2)電化學(xué)分析研究;
(3)電合成、電沉積(電鍍)、陽極氧化、電解等反應(yīng)機(jī)理研究;
(4)金屬材料的腐蝕行為研究與耐蝕性評價;
(5)緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護(hù)效率的快速評價。
硬件特點(diǎn)
● 雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器
● 內(nèi)置FRA頻響分析儀,頻率范圍 10μHz ~1MHz
● 高帶寬高輸入阻抗的放大器
● 內(nèi)置FPGA DDS信號合成器
● 高功率恒電位儀/恒電流儀/零電阻電流計(jì)
● 電壓控制范圍:±10V,槽壓為±21V(可選30V)
● 電流控制范圍:±2A (可擴(kuò)展至20A/40A/100A)
● 電位分辨率:1μV,電流分辨率:1pA(可選100fA)
軟件特點(diǎn) ① 數(shù)據(jù)分析
伏安曲線的平滑、積分和微分運(yùn)算,計(jì)算各氧化還原峰的峰電流、峰電位和峰面積等;
極化曲線的三參數(shù)或四參數(shù)動力學(xué)解析,計(jì)算Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,極限擴(kuò)散電流、極化電阻Rp和腐蝕速率等,還可由電化學(xué)噪聲譜計(jì)算功率譜密度、噪聲電阻Rn和譜噪聲電阻Rsn(f)。
② 實(shí)時存儲
CS Studio實(shí)時存儲測量數(shù)據(jù),即使因斷電導(dǎo)致測試中斷,中斷之前的數(shù)據(jù)也會自動保存。
③ 定時測量
CS Studio測試軟件具有定時測量功能, 對于某些需要研究體系隨時間變化特征時,可提前設(shè)好測試參數(shù)與間隔時間,讓儀器在無人值守下自動定時測量,為實(shí)驗(yàn)提供方便。
技術(shù)優(yōu)勢 ① 交流阻抗
儀器采用相關(guān)積分算法和雙通道同步過采樣技術(shù),具有較強(qiáng)的抗干擾能力,尤其適合于涂層、混凝土等高阻體系(>109Ω)的交流阻抗測量,也可用于Mott-Schottky 曲線和微分電容曲線繪制。軟件能實(shí)時顯示開路電位,用戶無需輸入,即可輸出準(zhǔn)確的極化過電位。
具有恒流阻抗測試功能,尤其適合于18650、軟包電池等超低阻儲能器件的交流阻抗測量。 ② 極化曲線
具有線性極化和Tafel極化曲線測量功能,用戶可設(shè)定循環(huán)極化曲線的陽極回掃電流(鈍化膜擊穿電流),來確定材料的點(diǎn)蝕電位和保護(hù)電位,評價晶間腐蝕敏感性。軟件采用非線性擬合算法解析極化曲線,可用于材料耐蝕性和緩蝕劑性能的快速評價。
6063鋁合金在含Ce3+的3%NaCl溶液中的EIS 鈦基非晶態(tài)合金和不銹鋼在3%NaCl溶液中的極化曲線
③ 伏安分析
能完成線性掃描伏安(LSV)、循環(huán)伏安(CV)等電分析方法,集成峰面積、峰電流計(jì)算和標(biāo)準(zhǔn)曲線分析功能。
聚吡咯超級電容器在0.5mol/L H2SO4溶液中的CV曲線 鉑電極在K4[Fe(CN)6] + KCl溶液中的CV曲線
④ 電化學(xué)噪聲
采用高阻跟隨器和零阻電流計(jì)測量腐蝕體系自發(fā)的電位與電流波動,可用于點(diǎn)蝕、電偶腐蝕、縫隙腐蝕和應(yīng)力腐蝕開裂 等局部腐蝕研究。通過噪聲譜分析,可評估亞穩(wěn)態(tài)蝕點(diǎn)或裂紋的誘導(dǎo)、生長和死亡過程?;谠肼曤娮韬忘c(diǎn)蝕指數(shù)計(jì)算,也可用于局部腐蝕監(jiān)測。
低碳鋼在0.05mol/L Cl-+0.1mol/L NaHCO3溶液中的電化學(xué)噪聲
⑤ 全浮地測量
CS系列電化學(xué)工作站采用全浮地式工作電極,可用于工作電極本身接地體系的電化學(xué)研究,如用于高壓釜電化學(xué)測試(釜體接地),大地中金屬構(gòu)件(橋梁、混凝土鋼筋)的在線腐蝕研究等。
⑥ 正反饋IR補(bǔ)償
啟動IR補(bǔ)償后,電化學(xué)工作站會增加一個額外模擬反饋路徑,通過測量電解池電流,啟用正反饋補(bǔ)償,硬件電路增加反饋信號,自動對Rs上的壓降進(jìn)行補(bǔ)償。
⑦ 自定義方法
支持用戶自定義組合測量,用戶可以設(shè)定定時循環(huán)進(jìn)行某一測試方法或多種方法的組合測試,用于無人值守下的定時自動測量;
提供API通用接口函數(shù)和開發(fā)實(shí)例,方便用戶二次開發(fā)和自定義測試方法;
提供用戶自定義腳本編寫范例,用于實(shí)現(xiàn)您的電化學(xué)實(shí)驗(yàn)技術(shù)。
技術(shù)指標(biāo)
硬件參數(shù)指標(biāo)
恒電位控制范圍:±10V | 恒電流控制范圍:±2A |
電位控制精度:0.1% | 電流控制精度:0.1% |
電位靈敏度:1μV | 電流靈敏度:1pA(可選100fA) |
電位上升時間:1μs | 電流量程:2nA~2A 10檔 |
參比電極輸入阻抗:1013Ω||8pF | 最大輸出電流:±2A(可擴(kuò)展至20A/40A/100A) |
槽壓輸出:±21V (可選30V) | 電流掃描增量:1mA@1A/ms |
CV和LSV掃描速度:0.001mV~10000V/s | 電位掃描電位增量:0.076mV @1V/ms |
CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s | DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s |
SWV頻率:0.001~100KHz | CV的最小電位增量:0.020mV |
AD數(shù)據(jù)采集:16bit@1MHz,20bit @1KHz | 電流與電位量程:自動設(shè)置 |
DA分辨率:16bit,建立時間:1μs | 低通濾波器 :8段可編程 |
通訊接口:USB2.0、RJ45網(wǎng)口 | 儀器重量:7.6Kg |
外形尺寸(mm):365(W)*338(D)*140(H) |
|
電化學(xué)阻抗測量指標(biāo)
信號發(fā)生器 |
頻率響應(yīng):10μHz~1MHz | 交流信號幅值:0mV~2500mV |
頻率精確度:0.005% | 信號分辨率:0.1mV RMS |
DDS輸出阻抗:50Ω | 直流偏壓:-10V~+10V |
正弦波失真率:<1% | 波形:正弦波,三角波,方波 |
掃描方式:對數(shù)/線性,增加/下降 |
|
信號分析器 |
最大積分時間:106個循環(huán)或者105s | 測量時間延遲:0~105s |
最小積分時間:10ms或者一個循環(huán)的最長時間 |
|
直流偏置補(bǔ)償 |
電位補(bǔ)償范圍:-10V~+10V | 電流補(bǔ)償范圍:-1A~+1A |
帶寬調(diào)整:自動或手動設(shè)置, 共8級可調(diào) |
|
儀器配置
1)儀器主機(jī)1臺
2) CS Studio測試與分析軟件1套
3)模擬電解池1個
4)電源線/USB數(shù)據(jù)線各1條
5)電極電纜線1條
6)電腦(選配*)功能方法
CS單通道系列不同型號功能方法比較
功能方法 | CS300M | CS310M | CS350M |
穩(wěn)態(tài)極化 | 開路電位(OCP) | ● | ● | ● |
恒電位極化(i-t曲線) | ● | ● | ● |
恒電流極化 | ● | ● | ● |
動電位掃描(Tafel曲線) | ● | ● | ● |
動電流掃描(DGP) | ● | ● | ● |
電位掃描-階躍 |
|
| ● |
暫態(tài)極化 | 任意恒電位階梯波 | ● | ● | ● |
任意恒電流階梯波 | ● | ● | ● |
恒電位階躍(VSTEP) | ● | ● | ● |
恒電流階躍(ISTEP) | ● | ● | ● |
計(jì)時分析 | 計(jì)時電位法(CP) | ● | ● | ● |
計(jì)時電流法(CA) | ● | ● | ● |
計(jì)時電量法(CC) | ● | ● | ● |
伏安分析 | 線性掃描伏安(LSV) | ● | ● | ● |
循環(huán)伏安(CV) | ● | ● | ● |
階梯循環(huán)伏安(SCV) | ● |
| ● |
方波伏安(SWV) | ● |
| ● |
差分脈沖伏安(DPV) | ● |
| ● |
常規(guī)脈沖伏安(NPV) | ● |
| ● |
差分常規(guī)脈沖伏安(DNPV) | ● |
| ● |
交流伏安(ACV) | ● |
| ● |
二次諧波交流伏安(SHACV) | ● |
| ● |
傅里葉變換交流伏安(FTACV) | ● |
| ● |
電流檢測 | 差分脈沖電流檢測(DPA) |
|
| ● |
雙差分脈沖電流檢測(DDPA) |
|
| ● |
三脈沖電流檢測(TPA) |
|
| ● |
積分脈沖電流檢測(IPAD) |
|
| ● |
溶出伏安 | 電位溶出分析(PSA) | ● |
| ● |
線性掃描溶出伏安(LSSV) | ● |
| ● |
階梯溶出伏安(SCSV) | ● |
| ● |
方波溶出伏安(SWSV) | ● |
| ● |
差分脈沖溶出伏安(DPSV) | ● |
| ● |
常規(guī)脈沖溶出伏安(NPSV) | ● |
| ● |
差分常規(guī)脈沖溶出伏安(DNPSV) | ● |
| ● |
交流阻抗 | 頻率掃描-電位控制模式(EIS-V) |
| ● | ● |
頻率掃描-電流控制模式(EIS-I) |
| ● | ● |
電位掃描(IMPE,Mott-Schotty) |
| ● | ● |
時間掃描-電位控制模式 |
| ● | ● |
時間掃描-電流控制模式 |
| ● | ● |
充放電測試 | 電池充放電 | ● | ● | ● |
恒電流充放電(GCD) | ● | ● | ● |
恒電位充放電 | ● | ● | ● |
恒電位間歇滴定技術(shù)(PITT) | ● | ● | ● |
恒電流間歇滴定技術(shù)(GITT) | ● | ● | ● |
雙恒測量 | 氫擴(kuò)散測試(HDT) | ● | ● | ● |
盤環(huán)電極測試 | ● | ● | ● |
法拉第效率測試 | ● | ● | ● |
擴(kuò)展測量 | 電化學(xué)噪聲(EN) | ● | ● | ● |
電偶腐蝕測量(ZRA) | ● | ● | ● |
電化學(xué)溶解/沉積 | ● | ● | ● |
控制電位電解庫倫法(BE) | ● | ● | ● |
動電位再活化法(EPR) | ● | ● | ● |
溶液電阻測量 | ● | ● | ● |
循環(huán)極化曲線(CPP) | ● | ● | ● |
任意恒電位極化 | ● | ● | ● |
腳本化定制測試 | ● | ● | ● |
注:*氫擴(kuò)散及旋轉(zhuǎn)盤環(huán)電極測試需配置CS1002恒電位/恒電流儀或采用CS2350M雙恒電位儀。
*產(chǎn)品3年質(zhì)保。